XUANCAI 落地式X射線衍射儀是研究物質(zhì)內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)的一種大型的高功率分析儀器，其專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計，外型美觀、易于操作、用戶友好、使用壽命長、智能化、檢測精度高，是材料研究、大學(xué)及研究院所、建筑材料、金屬、礦物、塑料制品、醫(yī)藥品和半導(dǎo)體等領(lǐng)域的理想分析工具。

LabStation-5落地式X射線衍射儀作為新一代高性能多功能衍射分析平臺，配備了HPC探測器，并具備自動識別功能，能夠智能識別所有光學(xué)組件和樣品臺。結(jié)合CrystalX智能分析軟件，它可實現(xiàn)一鍵式操作，從樣品放置到結(jié)果分析全程自動化，極大地簡化了實驗流程，顯著提高了科研效率。

該儀器不僅操作簡便，還具備高度靈活性。其高精度θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動系統(tǒng)確保了測量結(jié)果的高準確性和重復(fù)性。非共面臂結(jié)構(gòu)進一步拓展了儀器的應(yīng)用范圍和測量能力。無論是普通粉末樣品、液體樣品，還是納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜等復(fù)雜樣品，LabStation-5都能輕松應(yīng)對，滿足多樣化的科研需求。全自動光學(xué)系統(tǒng)與模塊化設(shè)計的結(jié)合，在實現(xiàn)先進測量的同時，提供了強大的擴展性，可根據(jù)不同需求靈活配置。

憑借其的性能、智能的操作方式以及多功能性，LabStation-5為材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研發(fā)等領(lǐng)域的工作者提供了一個高效、可靠的分析平臺，助力研發(fā)生產(chǎn)與技術(shù)創(chuàng)新。

使用優(yōu)勢

模塊化設(shè)計

配備模塊化樣品臺系統(tǒng)，支持無工具卡扣式插拔，安裝與更換過程簡單高效，極大地提升了儀器使用的靈活性。

多種光束幾何

配備Bragg-Brentano粉末衍射幾何和塊狀樣品、涂層和適用于薄膜的平行光束幾何，它們之間可以進行切換，且無需人工干預(yù)，是粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇。

出色的HPC探測器

搭載光子計數(shù)像素化HPC探測器，在對衍射強度具有極大提升的同時，顯著提升了靈敏度、信噪比、動態(tài)范圍、時間分辨率和空間分辨率五大核心性能。

電動可變狹縫

配備電動可變狹縫能夠根據(jù)測量需求自動調(diào)整狹縫寬度，優(yōu)化光束強度與分辨率，提高測量精度和效率，同時適應(yīng)不同樣品類型和實驗條件，增強儀器的靈活性和適用性。

多元化的附件選擇

可配備豐富的樣品臺附件，為您提供靈活多樣的樣品分析解決方案，滿足不同形態(tài)、尺寸和測試需求的樣品分析，助您更全面、深入地探索材料特性。

衍射圓半徑≥300mm

LabStation-5配備衍射圓半徑≥300mm，可顯著擴展測量角度范圍，提供更高的分辨率和更寬的2θ掃描范圍，從而實現(xiàn)對復(fù)雜材料微觀結(jié)構(gòu)的高精度分析，尤其適用于薄膜、納米材料及多晶樣品的精細研究。

非共面臂結(jié)構(gòu)

配備非共面臂結(jié)構(gòu)顯著擴展了測量角度范圍，提升了測量精度，增強了面內(nèi)衍射測量能力，同時支持多種應(yīng)用，為薄膜研究、殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)分析等提供了強大的支持，極大地提升了儀器的多功能性和適用性。